低损耗光学元件的反射率和透射率的确定

低损耗光学元件的反射率和透射率的确定

1）通过腔衰减时间测量，可以非常地测量反射率值R> 99％，透射率值T> 99％的低损耗光学元件。 与光谱仪中的测量相比，该方法有三个主要优点：

2）适用于非常高的反射率和透射率

3）不可能获得高于实际值的测量值

4）它具有非常高的精度

基本CRD测量设置

Layertec配有各种腔体环形系统，可以稳定地控制光学元件的质量。 有关更多详细信息，请参阅我们的目录内容“低损耗光学和腔体衰减时间测量简介”。

您可以在这里下载我们的目录。

Layertec配有各种腔体环形系统，可以稳定地控制光学元件的质量。 有关更多详细信息，请参阅我们的目录内容“低损耗光学和腔体衰减时间测量简介”。

您可以在这里下载我们的目录。

相位优化fs激光宽带镜 - CRD测量示例

低损耗镜 - CRD测量示例  

车镜 - 宽带CRD测量示例  

薄膜偏振器 - CRD测量示例