Spectralon®白平衡和漫反射目标板可用于各种工业、实验室和现场应用，包括成像系统的校准、背光照明、激光目标板、光学反射器、遥感和近距离传感器。这些目标板在整个 UV-VIS-NIR 波长 （350 - 1600nm） 范围内具有 99% 的反射率，并在整个校准波长区域展现高反射率。

型号：

更新日期：2023-12-20

￥面议

表面光洁度对照卡有30个对照样品，规格为7/8“ x 3/8“，采用在基材上电镀镍层工艺，可迅速评估6种常见的机械加工表面光洁度，如叉表面、绞刀扩孔表面、磨削表面、以及冷扎表面等，对应着公制Ra（微米级），英制为A*（micro-inches）。各种表面类型都是由我们的能工巧匠精心制作，精度在标称值的±10%之内。

型号：

更新日期：2023-12-20

￥面议

棋盘格校准目标板用于二维工业和机器视觉相机的校准，用于检测图像畸变或传感器问题，以保证测量精度。这些棋盘格目标板采用坚硬的象牙色和乳白色玻璃基片，因此不会使图案弯曲。这些棋盘格目标板能*地降低背射阴影的影响，使它们成为具有广泛视场的成像系统反射照明校准的理想选择。这些目标板提供各种尺寸，以补充视场较大或较小的相机.

型号：

更新日期：2023-12-20

￥面议

多功能高倍率校准卡这种“集多功能于一身”的校准卡可用来校准显微镜和机器视觉系统的参数，而不需分别校正。本卡可用来测试和校准Mitutoyo物镜，Zeiss物镜，以及高倍视频镜头的分辨率，畸变，以及景深（DOF）等等。测试卡中包括各种频率的蚀刻线，一组栅格和同心圆，一组微刻尺，以及边缘撑块来支撑 测量景深的卡。带使用信息卡， 一盘CD（操作说明），以及NIST认证说明。

型号：

更新日期：2023-12-19

￥面议

高分辨率显微镜载玻片靶采用高精度电子束光刻技术设计。这些图案蚀刻在光谱透射范围广泛 （DUV-VIS-NIR） 的 10 × 10mm² 熔融石英基底上，在该衬底上施加高光密度的铬层。通过去除铬层，形成尺寸低 100nm 的图案。本产品提供优异的尺寸稳定性，并安装在金属显微镜载玻片支架中。每个靶上的负片图案允许结构透明，而背景被铬层阻挡。

型号：

更新日期：2023-12-19

￥面议

12X 比较仪以及分划板组件可用于检测纸张质量以及油墨吸收性能等，是从事校验工作者的必选工具。本品底座采用透明材料，可直接放置于被检物品之上近距离观测。12X版本为凯涅尔光学结构，由三片光学镜片组成，具有消色差功能。本装置带锁止结构，调整好后可固定住调焦环。接触式分划板适配环位于底座处，可安装所有直径为12mm的分划板。

型号：

更新日期：2024-06-24

￥面议